기존 탄소나노튜브(SWCNT) 순도 평가 방법은 실제 순도보다 높게 평가되거나 신뢰성이 부족하다는 한계가 있었습니다. 특히 다양한 불순물과 SWCNT 종류별 비율 변화에 정확히 대응하기 어려웠습니다. 본 발명은 이러한 문제를 해결하고자 UV-VIS Near IR 흡수분광법을 활용한 새로운 탄소나노튜브 순도 평가 방법을 제시합니다. 이 방법은 스펙트럼 분석 곡선에서 반도체성(S22) 및 금속성(M11) 탄소나노튜브 피크의 흡수 면적에 기준선을 설정하고, 각 면적에 몰흡광계수 비율을 적용하여 고순도 탄소나노튜브 기준값과 비교 평가함으로써 순도를 더욱 정확하고 신뢰성 있게 측정합니다. 이를 통해 합성 및 정제 공정에서 고품질의 탄소나노튜브를 생산하고, 응용 제품의 성능을 향상시키는 데 기여할 수 있습니다. 본 기술은 탄소나노튜브의 품질 관리 및 표준화에 중요한 기반을 제공합니다.